다시 한 번 디자인 검토를 받았으며 특정 시나리오의 확률이 프로그램에 영향을 미치는 “우주선의 위험보다 적다”는 주장에 부딪 혔으며, 그 아이디어에 대해 가장 잘 모르는 아이디어가 나에게 생겼습니다. 확률은
이 때문에 ” -128이 340282366920938463463374607431768211456 1 아웃, 나는 이러한 계산은 더에 우주선의 위험 억 몇 … 우린 방식의 요인에 의해 떨어져있는 경우에도, 여기에 우리의 기회를 복용 우린 정당화 생각 우리를 망쳐 놓아 라. “
이 프로그래머가 맞습니까? 우주 광선이 컴퓨터를 때리고 프로그램 실행에 영향을 미칠 확률은 얼마입니까?
답변
에서 위키 백과 :
1990 년대 IBM의 연구에 따르면 컴퓨터는 일반적으로 한 달에 256MB의 RAM 당 하나의 우주 광선 유발 오류를 경험합니다. [15]
이는 매월 바이트 당 3.7 × 10 -9 또는 초당 바이트 당 1.4 × 10 -15 의 확률을 의미합니다 . 프로그램이 1 분 동안 실행되고 20MB의 RAM을 차지하는 경우 실패 확률은 다음과 같습니다.
60 × 20 × 1024²
1 - (1 - 1.4e-15) = 1.8e-6 a.k.a. "5 nines"
오류 점검은 실패의 여파를 줄이는 데 도움이 될 수 있습니다. 또한 Joe가 언급 한 칩 크기가 더 작기 때문에 고장률은 20 년 전과 다를 수 있습니다.
답변
분명히 중요하지 않습니다. 에서 이 뉴 사이언티스트 기사 , 인텔 특허 출원에서 인용 :
“우주선에 의한 컴퓨터 충돌은 발생했으며, 디바이스 (예를 들어, 트랜지스터)의 칩 크기가 감소함에 따라 주파수에 따라 증가 할 것으로 예상됩니다.이 문제는 향후 10 년 동안 컴퓨터 신뢰성의 주요 제한자가 될 것으로 예상됩니다.”
답변
참고 : 이 답변은 물리학이 아니라 비 ECC 메모리 모듈의 자동 메모리 오류에 관한 것입니다. 일부 오류는 외부 공간에서, 일부는 데스크톱의 내부 공간에서 발생할 수 있습니다.
CERN 클러스터 및 Google 데이터 센터와 같은 대규모 서버 팜에서 ECC 메모리 오류에 대한 여러 연구가 있습니다. ECC가있는 서버급 하드웨어는 모든 단일 비트 오류를 감지하고 수정할 수 있으며 많은 다중 비트 오류를 감지 할 수 있습니다.
비 ECC 데스크톱 (및 비 ECC 모바일 스마트 폰)이 많다고 가정 할 수 있습니다. ECC로 수정 가능한 오류율 (단일 비트 플립)에 대해 논문을 확인하면 비 ECC 메모리에서 자동 메모리 손상 률을 알 수 있습니다.
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대규모 CERN 2007 연구 “데이터 무결성” : 공급 업체는 “선언 (10)의 비트 오류율 -12 자신의 메모리 모듈 “, ” 관찰 오류율 크기의 4 개 주문이 예상보다 낮은 것입니다 “. 데이터 집약적 인 작업 (8GB / s의 메모리 읽기)의 경우 이는 1 분마다 ( 10-12 벤더 BER) 또는 2 일에 한 번 ( 10-16 BER) 단일 비트 플립이 발생할 수 있음을 의미합니다 .
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2009 구글의 논문 “와일드에서의 DRAM 오류 : 대규모 현장 연구”에 따르면 Mbit 당 최대 25000-75000 개의 1 비트 FIT ( 10 억 시간당 실패 )가 1-5 비트에 해당한다고합니다. 내 계산 후 8GB RAM에 대한 시간당 오류. 종이도 마찬가지다. ” 연간 GB 당 2000–6000의 수정 가능한 오류율을 의미한다 “.
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2012 Sandia 보고서 “대규모 고성능 컴퓨팅을위한 자동 데이터 손상 탐지 및 수정” : “더블 비트 플립은 거의 불가능한 것으로 간주됩니다.” ECC와 함께. 그리고 단일 비트 오류가 더 높아야합니다.
따라서 프로그램에 큰 데이터 세트 (수 GB)가 있거나 메모리 읽기 또는 쓰기 속도 (GB / s 이상)가 높고 몇 시간 동안 실행되는 경우 데스크톱 하드웨어에서 최대 몇 개의 자동 비트 플립을 기대할 수 있습니다. 이 속도는 memtest로 감지 할 수 없으며 DRAM 모듈이 좋습니다.
BOINC 인터넷 전체 그리드 컴퓨팅과 같은 수천 개의 비 ECC PC에서 긴 클러스터를 실행하면 항상 메모리 비트 충돌 및 디스크 및 네트워크 자동 오류로 인한 오류가 발생합니다.
Sandia의 2012 보고서에서 볼 수 있듯이 단일 비트 오류로부터 ECC를 보호하는 경우에도 더 큰 시스템 (1 만 대의 서버)의 경우 매일 이중 비트 플립이 발생할 수 있으므로 전체 크기 병렬을 실행할 수있는 기회가 없습니다 며칠 동안 프로그램 (정기 검사 점 및 이중 오류의 경우 마지막 검사 점에서 다시 시작하지 않음). ECC에 의해 보호되는 것은 아니기 때문에 거대한 머신은 캐시 및 CPU 레지스터 (ALU 데이터 경로 등의 아키텍처 및 내부 칩 트리거 모두)에서 비트 플랩을 얻을 수 있습니다.
추신 : DRAM 모듈이 불량하면 상황이 훨씬 나빠질 것입니다. 예를 들어 노트북에 새로운 DRAM을 설치했는데 몇 주 후에 사망했습니다. 많은 메모리 오류가 발생하기 시작했습니다. 내가 얻는 것 : 랩톱이 멈추고, 리눅스가 재부팅되고, fsck가 실행되고, 루트 파일 시스템에서 오류를 발견하고 오류를 수정 한 후 재부팅하고 싶다고 말합니다. 그러나 매번 재부팅 할 때마다 (약 5-6 번 정도) 루트 파일 시스템에 여전히 오류가 있습니다.
답변
Wikipedia 는 90 년대 IBM 의 연구에 따르면 “컴퓨터는 일반적으로 한 달에 256MB의 RAM 당 하나의 우주 광선 유발 오류에 대해 경험하고 있습니다”라고 말합니다. 불행히도 인용은 Scientific American의 기사에 관한 것으로, 더 이상 언급하지 않았습니다. 개인적으로 그 숫자는 매우 높지만 우주 광선에 의해 유발되는 대부분의 메모리 오류는 실제로 또는 눈에 띄는 문제를 일으키지 않습니다.
반면에 소프트웨어 시나리오와 관련하여 확률에 대해 이야기하는 사람들은 일반적으로 그들이 말하는 것에 대한 단서가 없습니다.
답변
글쎄, 우주 광선은 분명히 도요타 자동차의 전자 장치가 오작동을 일으켰으므로 확률이 매우 높다고 말합니다. 🙂
답변
ECC를 사용하면 Cosmic Rays의 1 비트 오류를 수정할 수 있습니다. 우주 광선으로 인해 2 비트 오류가 발생하는 경우의 10 %를 피하기 위해 ECC 셀은 일반적으로 칩 위에 인터리브되므로 두 셀이 서로 인접하지 않습니다. 따라서 두 셀에 영향을 미치는 우주 광선 이벤트는 두 개의 수정 가능한 1 비트 오류를 발생시킵니다.
태양 상태 : (2002 년 4 월 부품 번호 816-5053-10)
일반적으로 우주 광선 소프트 오류는 DRAM 메모리에서 ~ 10 ~ 100 FIT / MB의 속도로 발생합니다 (1 FIT = 1 개의 장치가 10 억 시간 내에 실패 함). 따라서 10GB의 메모리가있는 시스템은 1,000 ~ 10,000 시간마다 ECC 이벤트를 표시해야하며 100GB의 시스템은 100 ~ 1,000 시간마다 이벤트를 표시해야합니다. 그러나 이것은 대략적인 추정치이며 위에서 설명한 효과의 함수로 변경 될 것입니다.
답변
메모리 오류는 실제로 발생하며 ECC 메모리가 도움이됩니다. 올바르게 구현 된 ECC 메모리는 단일 비트 오류를 수정하고 이중 비트 오류를 감지합니다 (이러한 오류가 감지되면 시스템이 정지됨). 사람들이 Memtest86 및 불량 메모리 발견. 물론 우주 광선으로 인한 일시적 오류는 지속적으로 실패하는 메모리 조각과 다르지만 메모리가 올바르게 작동하기 위해 얼마나 신뢰해야하는지에 대한 광범위한 질문과 관련이 있습니다.
상주 크기가 20MB 인 분석은 사소한 응용 프로그램에 적합 할 수 있지만 대규모 시스템에는 일반적으로 주 메모리가 큰 여러 서버가 있습니다.
흥미로운 링크 : http://cr.yp.to/hardware/ecc.html
불행히도 페이지의 해적 링크는 죽은 것 같습니다.
